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No.6095
Si及び化合物パワー半導体を中心に、電気故障解析から物理故障解析まで通しで解析できます。10μ未満の異物分析が可能です。
 代表者 |
代表取締役 五十嵐 靖行 |
|---|---|
 資本金 |
10,000 万円 |
 従業員数 |
96 人 |
 所在地 |
大津市栗林町１番６０号 |
 TEL |
077-599-5015 |
 FAX |
077-544-7710 |
 URL |
https://www.ites.co.jp/ |
 mail |
yiga@ites.co.jp |
電子部品受託 分析・解析サービス 信頼性評価サービス、太陽電池検査装置（EL検査装置）・点検装置（ソラメンテ）、電子機器修理、ボード修理、データ復旧
断面研磨・観察技術、微小部位観察技術、不良部位特定技術、微小異物分析技術、連続モニター評価技術、3D自動化計測技術、自動化微細加工技術、EL/PL観察技術
Si及び化合物パワー半導体を中心に、電気故障解析から物理故障解析まで通しで解析できます。10μ未満の異物分析が可能です。
| 主要設備名 | 能力 | 台数 |
|---|---|---|
| 発光解析装置 | EMS/OBIRCH(Si、化合物半導体) | 1 |
| 走査型電子顕微鏡 | 数10倍～30万倍 | 4 |
| 透過型電子顕微鏡 | 0.1nm格子像 | 2 |
| 集束イオンビーム装置 | エッチング/デポ、自動化 | 3 |
| ３D形状測定機 | 範囲:300×125×70mm, 分解能:0.1um | 1 |
| 電子線マイクロアナライザ | 分解能 数um | 1 |
| Imaging FT-IR装置 | 分解能5um 程度 | 1 |
| 冷熱衝撃試験装置 | 最大W970×H460×D670 | 24 |
| 液槽冷熱衝撃試験装置 | - | 3 |
| 恒温恒湿試験装置 | 最大φ545×L550 | 22 |
| 高度加速寿命試験装置 | 最大φ545×L550 | 5 |
| ガスクロ分析/質量分析 装置 | - | 1 |
| 液クロ分析/質量分析 装置 | - | 1 |
| PL検査装置 | PV、SiC、GaN向け | 1 |
| パワーサイクル試験機 | 出力:600A x4 max., 熱過渡解析付き | 1 |
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